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       SAR型 ADC，即逐次渐进逼近型 ADC，采用的是多次比较的方式来获得最终的输出结果，具有简单易用，功耗低的特点。下图这个结构可以帮助我们容易地理解SAR型 ADC的工作过程： 

       如上图，假设输入信号的伪代码为 45，ADC为一个 6位的 ADC，满量程输出为 63。
1. 在采样阶段，ADC将输入信号采样至采样保持器(S/H)中并保持住，即此时 S/H中的值为 45，请记住 S/H中实际是一个模拟电压，45是我们给它定义的代表它大小的伪代码；
2. 接下来，在转换的第一个时钟上升沿，SAR寄存器首先将最高位至 1，即把 32（半个满量程），送给一个 DA转换器，DA转换器输出的模拟信号和 S/H中的模拟信号相比较，因为 45大于 32，比较器输出为高，提示 SAR的最高位应该置 1，在时钟的下降沿，ADC就将输出最高位数据（MSB）为 1；
3. 在第二个转换时钟的上升沿，SAR会将 MSB-1位置 1，此时由于 MSB已经固定为 1，SAR寄存器中的值实际为 48（32+32/2），由于 48大于 45，比较器输出为低，提示 SAR寄存器的 MSB-1位应该为 0，在时钟的下降沿，次高位的 0也被输出，同时 SAR寄存器也记住了次高位为 0的事实；
4. 依次类推，最终可以得到输出结果为：101101。

      从上述过程中可以看出，SAR寄存器的位数越多，逼近得越准确，但所需的转换时间越长。
      为提高 SAR型 ADC的总体转换速度，减少内部 DAC的建立时间对速度的影响，现代的SAR ADC多数采用电荷重分配的 CDAC输入结构，将采样保持与 DAC合为一体。
      若 SAR型 ADC的分辨率为 n比特，则其内部由 n个按照二进制加权排列的电容和外加一个“空 LSB”电容组成的阵列，如下图所示。

       在采样阶段，电容阵列公共端，即比较器的输入端接地，自由端连接到模拟输入 ui上，使得电容阵列上的电压与 ui成正比。而在保持阶段，公共端与地断开，所有电容的自由端接地，比较器输入电压等于-ui。由此可见电容阵列起到了采样保持功能。

       其转换比较方法仍然采用对分法逐次逼近。我们发现图 3-2中的电容网络从“空 LSB”电容开始，第一个 C和第二个 C并联，构成了一个 2C的等效电容，而这个等效电容又和下一个 2C电容并联，构成了 4C的等效电容，依次类推，构成了一个电容分压网络，而且每向后一级（从左向右），其电压为上一级的 1/2。其对分法比较过程如下：

1. MSB电容自由端接 Vref，其余电容自由端接地，此时公共端的电压为 1/2Vref；
2. 如果输入电压 ui大于 1/2Vref，比较器输入为-ui+1/2Vref仍然小于零，此时比较器输出为逻辑“1”；
3. 保持 MSB电容与 Vref相连，将下一个电容连接到 Vref，重复上面的判断过程，确定输出数字值；
4. 依次循环指导判定全部数字位。

       从上述描述可以看出电容阵列的 SAR型 ADC好处在于减少了传统 SAR型 ADC中由于 DA引入所需的建立时间。但同时，其内部的电容值随着 ADC位数增长呈指数级增长，带来的后果是电容体积的增大，以及对芯片工艺要求的增高。这也就解释了为什么 SAR型 ADC的精度不会太高。